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掃描電子顯微鏡:為研究微觀世界提供強大的手段

更新時間:2025-03-30      點擊次數:560
  掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope, SEM)是一種利用高能電子束掃描樣品表面,通過收集激發的二次電子、背散射電子及特征X射線等信號,生成高分辨率微觀圖像的儀器。其工作原理可分為四步:
 
  電子束發射:電子槍(如熱發射槍或場發射槍)產生高能電子束。
 
  聚焦與掃描:電子束經電磁透鏡聚焦至納米級(直徑約0.4-5nm),通過掃描線圈在樣品表面按光柵式路徑逐點掃描。
 
  信號激發:電子束與樣品相互作用,激發二次電子(反映表面形貌)、背散射電子(反映成分分布)和特征X射線(用于元素分析)。
 
  信號檢測與成像:探測器收集信號,經放大后調制顯像管亮度,形成與樣品表面特征對應的圖像。
 
  與光學顯微鏡相比,SEM分辨率高、景深大;與TEM相比,SEM樣品制備簡單,可直接觀察大塊樣品表面,但分辨率較低。場發射SEM(FE-SEM)因高亮度和穩定性,在綜合分析中應用更廣。
 
  掃描電子顯微鏡憑借其高分辨率、大景深和多功能性,已成為材料科學、生物、半導體等領域理想的分析工具。隨著技術突破(如場發射電子槍、低真空環境),其應用范圍不斷擴展,并向智能化、原位分析方向發展,為微觀世界的研究提供了更強大的手段。

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